A dinamikus fényszórással, a hagyományos módszerrel a részecskék által szórt fény 100 nm-nél kisebb részecskeméret esetén meredeken csökken. Továbbá az egyes nano tartományban (azaz a 10 nm-nél kisebb részecskeméreteknél) fizikai korlátok nehezítik a szórt fény detektálását, és a részecskeméretek mérése is nehézkessé válik. Az IG módszer nem használ szórt fényt, így mentes ezektől a fizikai korlátozásoktól, és nem igényel a törésmutató mérési feltételként történő bevitelét. Ezért lehetővé teszi a nanorészecskék méretének egyszerű és nagy érzékenységű mérését, és különösen hatékony az egyedi nanorészecskék elemzésében.

Egyedi nanorészecskék nagy érzékenységű elemzése
A méréshez a részecskék által képzett diffrakciós rács által kibocsátott optikai jeleket, nem pedig a részecskék által kibocsátott szórt fényt használják, így még az egyetlen nanorégióban is megfelelő S/N arány érhető el, és stabil, jó reprodukálhatóságú mérés lehetséges.

Ellenállás a szennyeződéssel szemben
Az új mérési elv ellenáll a szennyeződésnek, így még akkor is, ha a minta kis mennyiségű idegen részecskékkel keveredik, az elemzendő részecskékre vonatkozó információk továbbra is megőrizhetők. Ezért nincs szükség a minták szűrésére a durva részecskék eltávolítása érdekében.

Magas fokú reprodukálhatóság
Az új mérési módszer magas reprodukálhatóságot és stabil adatok gyűjtését biztosítja. Különösen a 10 nm-nél kisebb részecskeméretű részecskék nagyfokú reprodukálhatósága megszünteti a részecskeelemzés bizonytalanságát és bizonytalanságát az egyes nano tartományban. A diffraktált fény nyers adataival való összehasonlítás is lehetséges, így a mérési eredmények durva validálása egyszerűen elvégezhető.

Mi az az "indukált rácsos módszer"?
A nanorészecskék koncentrációja a közeg törésmutatójának változásának mértékeként fejeződik ki, és így ha a részecskék ciklikus koncentrációeloszlása külső erő hatására alakul ki a közegben, az diffrakciós rácsként működik. Ha a külső erő megszűnik, a diffrakciós rács eltűnik. Az IG-módszerrel ennek a részecskesűrűségű diffrakciós rácsnak a bomlási folyamatát a diffraktált fény intenzitásának változásán keresztül mérjük, és diffúziós együtthatót kapunk.

Mikroszkopikus részecskékből álló, dielektroforézissel kialakított diffrakciós rács.
Ciklikusan elhelyezett elektródákra váltakozó feszültséget kapcsolunk, és a folyadékban dielektroforézissel mikroszkopikus részecskék ciklikus koncentrációeloszlása alakul ki. Bár a mikroszkopikus részecskék ciklikus koncentrációeloszlása diffrakciós rácsként működik (részecskekoncentrációs diffrakciós rács), ha a váltakozó feszültséget leállítják, a rács diffundál és eltűnik (szabadalom folyamatban).

Az IG-módszer lényege
-Pontos mérés az elektródkonfiguráció módosításával érhető el-
A ciklikusan elrendezett elektródák diffrakciós rácsként is működnek. Az ezen elektródák diffrakciós rácsa által létrehozott diffrakciós fény gyengébb, mint a részecskekoncentrációs diffrakciós rács által létrehozott diffrakciós fény, és a részecskekoncentrációs diffrakciós rács diffúziójából eredő elsődleges diffrakciós fény változásainak pontos mérése érdekében biztosítani kell, hogy az elsődleges diffrakciós fény két formájának helyzete ne essen egybe. Ezért az elektróda konfigurációját az ábrán látható módon úgy módosították, hogy az elektróda diffrakciós rács osztása fele a részecskekoncentrációs diffrakciós rács osztásának (szabadalom folyamatban).